Budding spolu se Zeilikem v několika pracích publikovaných v 70. a 80. letech minulého století (například Budding & Zeilik, 1977, Zeilik & Budding, 1986) představili zcela nový přístup k řešení světelných křivek dvojhvězd deformovaných v důsledku přítomnosti skvrn na povrchu složek. Model SEBM využívá dva programy pro fitování světelné křivky. Prvním krokem je optimalizace světelné křivky pomocí programu, který umožňuje fitovat až 16 parametrů světelné křivky včetně efektu odrazu nebo elipticity (Budding, 1973). Úspěšnost řešení je posuzována podle parametru
kde α představuje typicky fotometrickou fázi, li svítivosti soustavy a systemizované parametry ai mají následující význam:
a1 = U - střední úroveň jasnosti mezi minimy,
a2 = L1 - svítivost primární složky (pro sekundární minimum je a2 nahrazeno rozdílem a1-a2, případně parametrem a9),
a3 = k - poměr poloměrů,
a4 = ug - koeficient lineárního okrajového ztemnění větší složky,
a5 = us - koeficient lineárního okrajového ztemnění menší složky (vztahuje se k fázi zákrytu),
a6 = Δθ0 - korekce polohy středu primárního minima,
a7 = sin2i/r12, kde i je sklon trajektorie a r1 je poloměr zakrývané hvězdy,
a8 = cos2i/r12.
Je ale možné přidávat i další parametry ai. Poté, co je zjištěno nejlepší řešení, je vypočtená teoretická světelná křivka odečtena od napozorované. Tím se získá tzv. deformační křivka, kterou dále řešíme pomocí modelu s jednou nebo dvěma temnými kruhovými skvrnami na primární složce. Získaná teoretická deformační křivka se odečte od původní napozorované křivky. Výsledkem je světelná křivka očištěná od projevů skvrn. Na ni znovu aplikujeme prvotní fitovací proces a získáme nezkreslené parametry dvojhvězdného systému.
Literatura:
Budding, E., 1973, A&AS 22, 87
Budding, E., Zeilik, M., 1977, ApJ 319, 827
Zeilik, M., Budding, E., 1986, The short-period RS CVN systems: A preliminary starspot analysis v Cool Stars, Stellar Systems, and the Sun, Proceedings of the Fourth Cambridge Workshop on Cool Stars, Stellar Systems, and the Sun, Santa Fe, New Mexico, Oct 16-18, 1985, Springer, Heidelberg, ed. M. Zeilik, D. M. Gibson
zpět na přehled metod